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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211200922.8 (22)申请日 2022.09.29 (71)申请人 云谷 (固安) 科技有限公司 地址 065500 河北省廊坊市固安县新兴产 业示范区 (72)发明人 曹聪聪 马领玉  (74)专利代理 机构 北京布瑞知识产权代理有限 公司 11505 专利代理师 张婷 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/73(2017.01) (54)发明名称 一种检测方法、 检测装置和相关 设备 (57)摘要 本发明提供了一种检测方法、 检测装置和相 关设备, 其中检测方法包括: 获取显示面板中多 个目标结构的初始图像, 所述多个目标结构呈非 矩阵排布或非直线排布; 将所述初始图像转换为 目标图像, 并使得所述目标图像中所述多个目标 结构呈矩阵排布或直线排布; 将所述目标图像中 多个目标结构的灰阶值进行对比, 来确定所述多 个目标结构是否具有缺陷, 从而可以根据形状相 同或相似的多个目标结构的图像, 更准确地确定 多个目标结构是否具有缺陷, 进而可以提高显示 面板的缺陷检出率。 权利要求书2页 说明书9页 附图5页 CN 115511841 A 2022.12.23 CN 115511841 A 1.一种检测方法, 其特 征在于, 包括: 获取显示面板 中多个目标结构的初始图像, 所述多个目标结构呈非矩阵排布或非直线 排布; 将所述初始图像转换为目标图像, 并使得所述目标图像中所述多个目标结构呈矩阵排 布或直线排布; 将所述目标图像中多个目标结构的灰阶值进行对比, 来确定所述多个目标结构是否具 有缺陷。 2.根据权利要求1所述的检测方法, 其特征在于, 所述将所述初始图像转换为目标图像 包括: 确定所述初始图像中构成所述多个目标 结构的各个点的第一 坐标值; 根据所述多个目标结构的各个点的第 一坐标值以及坐标值转换公式, 得到所述多个目 标结构的各个点的第二 坐标值; 根据所述多个目标结构的各个点的第 二坐标值, 对所述多个目标结构的各个点进行重 新排布, 得到所述目标图像。 3.根据权利要求2所述的检测方法, 其特征在于, 所述初始图像中所述多个目标结构呈 圆环状排布, 则所述确定所述初始图像中所述多个目标结构的各个点的第一坐标值包括: 确定所述多个目标结构所在圆环的圆心的坐标值以及所述多个目标结构的各个点的第一 坐标值; 所述根据 所述多个目标结构的各个点的第 一坐标值以及坐标值转换公式, 得到所述多 个目标结构的各个点的第二坐标值包括: 根据所述多个目标结构所在圆环的圆心的坐标 值、 所述多个目标结构的各个点的第一坐标值以及坐标值转换公式, 得到所述多个目标结 构的各个点的第二 坐标值; 可选地, 所述 坐标值转换公式包括: 其中, (x, y) 表示所述第一坐标值, (r, θ )、 ( θ, r)、 (r+x0, θ+y0)或( θ+x0, r+y0)表示所述第二坐标值, (x0, y0)为所述圆心的坐标值; 可选地, 所述第二坐标值(r, θ )、 ( θ, r)、 (r+x0, θ +y0)或( θ +x0, r+y0)中, r的值取为(rmin +rstepr’), θ 的值取为( θmin+θstepθ’), rmin为预设的极径r的最小 值, rstep为预设的所述目标结 构的各个点之间的极径步长值, r ’为r与rmin的差值与rstep的比值上取整的值; θmin为预设的 极角 θ 的最小值, θstep为预设的所述目标结构的各个点之间的极角步长值, θ ’为θ与θmin差值 与 θstep比值上取整的值; rmin、 rstep、 θmin的值可以根据需要进行预 设, 其预设值的大小可以依 据对应的初始图像的像素尺寸大小确定 。 4.根据权利要求2或3所述的检测方法, 其特征在于, 所述确定所述初始图像中所述多 个目标结构的各个点的第一 坐标值之前, 还 包括: 识别出所述初始图像中的所述多个目标 结构。 5.根据权利要求1所述的检测方法, 其特征在于, 所述将所述目标图像中多个目标结构 的灰阶值进行对比, 来确定所述多个目标 结构是否具有缺陷包括:权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 115511841 A 2将任一所述目标结构的灰阶值和与其相邻的其他目标结构的灰阶值以及相邻的多个 目标结构的平均灰阶值进行对比; 若任一所述目标结构的灰阶值大于其他目标结构的灰阶值以及平均 灰阶值, 则所述目 标结构具有缺陷; 若任一所述目标结构的灰阶值小于或等于其他目标结构的灰阶值以及平均 灰阶值, 则 所述目标 结构不具有缺陷。 6.根据权利要求1所述的检测方法, 其特征在于, 所述多个目标结构包括至少一条走线 的多个线段, 所述走线的形状为圆环状或圆弧状; 或者, 所述多个目标结构包括多个像素, 所述多个 像素呈圆环排布或圆弧排布; 可选地, 所述至少一条 走线和/或所述多个 像素围绕所述显示 面板的挖孔区设置 。 7.一种检测装置, 其特 征在于, 包括: 图像获取模块, 用于获取显示面板中多个目标结构的初始图像, 所述多个目标结构呈 非矩阵排布或非直线排布; 图像处理模块, 用于将所述初始图像转换为目标图像, 并使得所述目标图像中所述多 个目标结构呈矩阵排布或直线排布; 缺陷检测模块, 用于将所述目标图像中多个目标结构的灰阶值进行对比, 来确定所述 多个目标 结构是否具有缺陷。 8.根据权利要求7所述的检测装置, 其特征在于, 所述图像处理模块将所述初始图像转 换为目标图像包括: 确定所述初始图像中构成所述多个目标结构的各个点的第一坐标值; 根据所述多个目标结构的各个点的第一坐标值以及坐标值转换公式, 得到所述多个目标结 构的各个点的第二坐标值, 所述坐标值转换公式包括不同坐标系 下的坐标值的转换公式; 根据所述多个目标结构的各个点的第二坐标值, 对所述多个目标结构的各个点进 行重新排 布, 得到所述目标图像; 可选地, 所述初始图像中所述多个目标结构呈圆环状排布, 所述图像处理模块确定所 述初始图像中所述多个目标结构的各个点的第一坐标值包括: 确定所述多个目标结构所在 圆环的圆心的坐标值以及所述多个目标 结构的各个点的第一 坐标值; 所述根据 所述多个目标结构的各个点的第 一坐标值以及坐标值转换公式, 得到所述多 个目标结构的各个点的第二坐标值包括: 根据所述多个目标结构所在圆环的圆心的坐标 值、 所述多个目标结构的各个点的第一坐标值以及坐标值转换公式, 得到所述多个目标结 构的各个点的第二 坐标值。 9.一种检测设备, 其特 征在于, 包括: 存储器, 用于存 储至少一组指令; 处理器, 用于执 行所述至少一组指令, 以执 行如权利要求1至 6任一项所述的检测方法。 10.一种可读存储介质, 其特征在于, 所述可读存储介质存储至少一组指令, 所述至少 一组指令用于使处 理器执行如权利要求1至 6任一项所述的检测方法。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 115511841 A 3

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专利 一种检测方法、检测装置和相关设备 第 1 页 专利 一种检测方法、检测装置和相关设备 第 2 页 专利 一种检测方法、检测装置和相关设备 第 3 页
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