(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202211194570.X (22)申请日 2022.09.29 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 115294107 A (43)申请公布日 2022.11.04 (73)专利权人 江苏三通科技有限公司 地址 226000 江苏省南 通市海门市三厂镇 望江路10 0号 (72)发明人 唐蕊花　 (74)专利代理 机构 绍兴三人 行柯信知识产权代 理事务所(普通 合伙) 33495 专利代理师 齐玉巧 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/187(2017.01)G06T 7/62(2017.01) G06V 10/56(2022.01) G06V 10/74(2022.01) (56)对比文件 CN 112348840 A,2021.02.09 CN 112419225 A,2021.02.26 CN 112950694 A,2021.0 6.11 CN 103745475 A,2014.04.23 审查员 周三章 (54)发明名称 一种基于图像识别的二极管引脚表面氧化 检测方法 (57)摘要 本发明公开了一种基于图像识别的二极管 引脚表面氧化检测方法， 涉及图像识别技术领 域， 包括： 获取二极管引脚表面的第一灰度图像； 获取第一灰度图像中每个像素点的灰度梯度值； 获取第一图像中每个像素点的灰度相似性； 将第 一灰度图像分割为多个连通域， 并获取目标连通 域； 获取第一灰度图像中每个像素点的突出程 度； 获取第一灰度图像中像素点的密集程度； 获 取多组目标突出程度集合； 获取每组目标突出程 度对应的像素点灰度值的平均值， 并获取第二灰 度图像； 构建灰度共生矩阵， 并获取灰度共生矩 阵的能量值； 根据能量值判断二 极管是否为合格 二极管； 本发明解决了相关技术中， 在对二极管 引脚表面氧化缺陷检测时自动化程度和检测精 度低下的技 术问题。 权利要求书2页 说明书9页 附图2页 CN 115294107 B 2022.12.27 CN 115294107 B 1.一种基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法， 其特 征在， 包括以下步骤： 获取二极管引脚表面的第一灰度图像； 根据所述第一灰度图像中像素点的灰度值获取每 个像素点的灰度梯度值； 根据所述第一灰度图像中每个像素点与其邻域像素点的灰度值获取每个像素点的灰 度相似性； 利用第一灰度图像中每个像素点的灰度相似性将第一灰度图像分割为多个连通 域， 并根据每个连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性获取所述连通域的特征 值； 根据灰度相似性获取所述第 一灰度图像中的多个连通域， 并根据每个连通域的面积与 该连通域中像素点的灰度相似性获取每 个所述连通 域的特征值的过程中还 包括： 设定灰度相似性阈值， 获取所述第 一灰度图像中满足所述灰度相似性阈值的任意一点 为起始像素点； 获取所述像素点的连通域中满足所述灰度相似性阈值的所有像素点组成第 一连通域； 根据第一连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性获取所述第一连通域 的特征值； 获取除第一连通域外其余像素点中满足所述灰度相似性阈值的任意一点为第二像素 点， 并根据所述第二像素点对应的第二连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性 获 取所述第二连通域的特征值； 重复上述步骤， 依 次获取满足所述灰度相似性阈值的像素点 所在的多个连通 域； 根据所述连通 域的特征值获取目标 连通域； 根据每个像素点的灰度值、 灰度梯度值及目标连通域中灰度均值和灰度梯度均值， 获 取每个像素点的突出程度； 利用突出程度中的极值及每个突出程度中包含像素点的个数获取所述第一灰度图像 中像素点的密集 程度； 获取所有突出程度小于密集程度的目标突出程度， 且将相邻的目标突出程度划分为一 组， 无相邻的目标突出程度为一组得到多组目标突出程度集合； 获取每组目标突出程度对 应的像素点灰度值的平均值， 并将所述平均值赋值给所述第一灰度图像中对应像素点的灰 度值获得第二灰度图像； 利用所述第 二灰度图像中像素点的灰度值构建灰度共生矩阵， 根据所述灰度共生矩阵 获取所述第二灰度图像中多个方向的灰度对的个数； 根据多个方向的灰度对的个数获取所 述灰度共生矩阵的能量 值； 根据所述能量 值判断所述 二极管是否为合格二极管。 2.根据权利要求1所述的基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法， 其特征在于， 所述像素点的灰度相似性 通过下式确定： 式中， 为第 个像素点的灰度相似性； 为第 个像素点的灰度值； 为像素点 的 第 个邻域像素点的灰度值； 为像素点 的邻域像素点的个数。 3.根据权利要求1所述的基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法， 其特征在于， 所述第一连通 域的特征值通过下式确定：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115294107 B 2式中， 为第一连通域的特征值； Q为第一连通域中像素点的个 数； 为第一连通域中第 个像素点的灰度相似性。 4.根据权利要求3所述的基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法， 其特征在于， 所述获取目标连通域的过程为： 设定特征值的阈值， 获取所述多个连通域中满足所述特征 值的阈值的连通 域为目标连通域。 5.根据权利要求4所述的基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法， 其特征在于， 所述第一灰度图像中每 个像素点的突出程度通过 下式确定： 式中， 为第一灰度图像中第 个像素点的突出程度； 为第一灰度图像中目标连通域 的像素点灰度均值； 为第一灰度图像中目标连通域的像素点灰度梯度均值； 为第一灰 度图像中第 个像素点的灰度值； 为第一灰度图像中第 个像素点的灰度梯度值。 6.根据权利要求5所述的基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法， 其特征在于， 所述第一灰度图像中像素点的密集 程度通过 下式确定： 式中， 为第一灰度图像中像素点的密集程度； 为第一灰度图像中像素点的突出 程度的最大值； 为第一灰度图像中像素点的突出程度的最小值； 为突出程度为 时 对应的像素点的频 数； 代表全部的突出程度个数。 7.根据权利要求1所述的基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法， 其特征在于， 所述灰度共生矩阵中多个方向的灰度对包括0度方向的灰度对、 45度方向的灰度对、 90度方 向的灰度对和13 5度方向的灰度对。 8.根据权利要求7所述的基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法， 其特征在于， 获取所述灰度共生矩阵的能量值的过程中还包括对所述能量值进行归一化处理获得归一 化的能量 值。 9.根据权利要求8所述的基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法， 其特征在于， 判断所述二极管是否为合格二极管的过程中还包括设定能量值的阈值， 当所述归一化的能 量值小于所述能量值的阈值时， 所述二极管为合格二极管； 当所述归一化的能量值大于或 等于所述能量 值的阈值时， 所述 二极管为 不合格二极管。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115294107 B 3