GB-T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减 插入损耗

ICS 31.220.10 L 23 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T5095.2502—2021/IEC60512-25-2:2002 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） Electromechanical components for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part25-2:Test25b:Attenuation(insertionloss) [IEC 60512-25-2: 2002, Connectors for electronic equipment—Tests and measurementsPart 25-2:Test 25b:Attenuation(insertion loss),IDT 2021-03-09发布 2021-10-01实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 GB/T5095.2502—2021/IEC60512-25-2:2002 目次前言总则 1.1 范围和目的 1.2 术语和定义 2试验设施 2.1 设备 2.2 装置 3试验样品 3.1 说明试验程序 4.1 装置衰减 4.2 样品衰减测量 4.3 阻抗分析仪（开路/短路法）… 4.4 追加测量 4.5 时域法 5相关标准应规定的细则 6试验记录文件附录A（规范性附录）装置和设备的示意图附录B（资料性附录）实用指南 10

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